|
Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://www.issp.ac.ru/journal/surface/2000/07-2000.htm
Дата изменения: Wed Jan 20 11:57:47 2010 Дата индексирования: Tue Oct 2 11:59:56 2012 Кодировка: koi8-r Поисковые слова: п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п п |
Номер 7,
2000
ВСЕРОССИЙСКОЕ РАБОЧЕЕ
СОВЕЩАНИЕ "ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ"
|
Исследование методом сканирующей туннельной микроскопии атомной структуры напряженных эпитаксиальных слоев InAs на поверхности GaAs (001) |
|
|
6 | |
|
|
|
|
Исследование методом атомно-силовой микроскопии роста самоорганизующихся наноостровков Ge на Si (001) |
|
|
| |
|
12 | |
|
|
|
|
Формирование и заращивание квантовых точек inAs в процессе мсталлооргаиической газофазной эпитаксии |
|
|
П. В. Востоков, В. М.Динильцев. Ю. Н .Дроздов, А. В. Мурель. О. И. Хрыкин,
В. И. Шашкин
|
17 |
|
|
|
|
Исследование методом сканирующей туннельной микроскопии локальной фотопроводимости полупроводниковых структур с квантовыми ямами и точками |
|
|
В. Я. Алешкин. А. В. Бирюков, С. В. Гипонов, 3. Ф. Красильник. В. Л.
Миронов
|
22 |
|
|
|
|
Исследование методами СТМ и ПЭМВР листового материала из одностенных углеродных нанотрубок |
|
|
Е. Д. Образцова, В. Ю.
Юров, В. М. Шсвлюга, Р. Е. Барановский, В. А. Налимова. В. Л.
Кузнецов. В. И. Зайковский
|
26 |
|
|
|
|
Исследование алмазоиодобных пленок, легированных медью, методом сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии |
|
|
А. О. Голубок, О. М. Горбенко, С. А. Масалов, В. В. Розанов, Т. К. Звонарева. |
|
|
В. И. Иванов-Омский, С.
Г. Ястребов
|
31 |
|
|
|
|
Изучение in situ фотохимических процессов на границе жидкость-полупроводник с помощью атомно-силового микроскопа |
|
|
А. А. Бухараев. А. А. Можанова, II. И. Нургазазив
|
36 |
|
|
|
|
Зонды для сканирующего ближнепольного оптического микроскопа |
|
|
В. Ф. Дряхлушин, А. Ю. Климов. В. В. Рогов. А. В.
Круглое |
40 |
|
|
|
|
Оптическая микроскопия ближнего поля элементов оптической памяти |
|
|
А. А. Ежов, С. Л.
Магницкий, Д. Л. Музыченко, В. И. Панов
|
43 |
|
|
|
|
О механизме взаимодействия зонд-поверхность в микроскопии ближнего поля. |
|
|
Эксперимент и модель |
|
|
47 | |
|
|
|
|
Лазерное формирование зондов для ближнепольных оптических микроскопов |
|
|
В. II. Нейки, Н. Б. Вознесенский, С. А. Родионов. Ю. М.
Воронин, Т. В. Иванова, И. Б. Смирнов,
|
|
|
А. И. Калачев.Д. В. Иваницкий
|
53 |
|
|
|
|
Количественные методики восстановления истинных топографических свойств объектов по измеренным АСМ-изображениям. |
|
|
1. Контактные деформации зонда и образца |
|
|
58 | |
|
|
|
|
Количественные методики восстановления истинных топографических свойств объектов по измеренным АСМ-изображениям. |
|
|
2. Эффект уширения АСМ-профиля |
|
|
М. О. Галлямов, И. В.
Яминский
|
63 |
|
|
|
|
Исследование морфологии пленок TiO2 методом атомно-силовой микроскопии |
|
|
А. Л. Толстихина, П. А. Арутюнов |
67 |
|
|
|
|
Исследование процесса заращивания нанокластеров InAs в гетероструктурах с квантовыми точками GaAs/lnAs, полученных методом газофазной эпитаксии |
|
|
Н. В. Байдусь, Б. Н.
Звонков, Д. О. Филатов, Ю. Ю. Гущина, И. А.
Карпович. |
|
|
А. В. Здоровешцев
|
71 |
|
|
|
|
Разработка методов атомно-силовой литографии для создания наноразмерных элементов |
|
|
Н. В. Востоков, Д. Г. Волгунов, В. Ф. Дряхлушин, А. Ю. Климов, В. В.
Рогов, |
76 |
|
|
|
|
Исследование неоднородностей в тонких пленках Y-Ba-Cu-O методами сканирующей зондовой микроскопии |
|
|
А. К. Воробьев, Н. В.
Востоков, С. В. Гапонов, Е. Б. Клюенков, В. Л. Миронов
|
79 |
|
|
|
|
Сравнительные СТМ- и АСМ-наблюдения морфологии тонких пленок германия, напыленных на подложку кремния |
|
|
М. В. Байзер, С. Ю.
Садофъев, И. В. Закурдаев, М. М. Рзаев, П. А. Трубенко
|
83 |
|
|
|
|
Конденсация ДНК Т4 в водно-спиртовых средах |
|
|
М. О. Галлямов, О. А.
Пышкина, В. Г. Сергеев, И. В. Яминский |
88 |
|
|
|
|
Динамическая проводимость мезоскопических туннельных переходов и спектр низкочастотных флуктуаций тока полевой электронной эмиссии |
|
|
В. Г.
Валеев
|
92 |
|
|
|
|
Построение функции деформации на поверхности образца по топографическим данным сканирующей зондовой микроскопии |
|
|
О. А. Морозов, С. А.
Минеев, О. В. Сотникова, Ю. Ю. Гущина
|
96 |
|
|
|
|
Моделирование порошковых дифракционных спектров о-фаз с дефектами упаковки и квазикристаллов на основе s-фазы |
|
|
Е. В. Шелехов, Т. А.
Свиридова, Н. П.Дьяконова
|
99 |
|
|
|
|
Вискерные зонды |
|
|
Е. И. Гивиргизов, А. Н.
Степанова, Л. Н. Оболенская, В. Г. Галстян, Е. С. Машкова, В. А. Молчанов,
М. Е. Гиваргизов
|
106 |
|
|
|
|
111 |