|
Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://num-meth.srcc.msu.ru/zhurnal/tom_2005/v6r112.html
Дата изменения: Tue Feb 13 16:37:46 2007 Дата индексирования: Mon Oct 1 20:31:55 2012 Кодировка: Windows-1251 Поисковые слова: покрытие |
|
Стабилизация вычислительных алгоритмов определения свойств тонкопленочных
оптических покрытий
Тихонравов А.В., Трубецков М.К. |
|
Разработка устойчивых вычислительных алгоритмов для определения свойств тонкопленочных оптических покрытий играет ключевую роль для успешного их применения во многих передовых областях технологии. Настоящая статья представляет общую идею, позволяющую разрабатывать эффективные с вычислительной точки зрения и устойчивые алгоритмы определения свойств покрытий для практически всех современных производственных процессов, используемых для изготовления оптических покрытий. Эффективность одного из таких алгоритмов демонстрируется с использованием новой исследовательской методологии, названной вычислительным производством.
|
| Тихонравов А.В., Трубецков М.К. - Научно-исследовательсеий вычислительный центр, Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, 119992, Москва; e-mail: tikh@srcc.msu.ru, trub@srcc.msu.ru |