Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://www.issp.ac.ru/journal/surface/about.html
Дата изменения: Tue Mar 31 15:43:52 2015 Дата индексирования: Sun Apr 10 03:05:29 2016 Кодировка: Windows-1251 |
Уважаемые
коллеги!
Журнал издается с 1982 года (12 выпусков в год), включен в Перечень
российских рецензируемых научных журналов ВАК, в которых должны быть
опубликованы основные научные результаты диссертаций на соискание ученых степеней
доктора и кандидата наук (Перечень ВАК).
Редакция журнала 'Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и
нейтронные исследования' приглашает
Вас публиковать свои статьи в нашем журнале и информирует Вас о том, что с
2007г.компания "Pleiades Publishing, Ltd." и
Международная академическая издательская компания 'Наука/Интерпериодика'
издает журнал на английском языке под
названием 'Journal of Surface Investigation. X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques'. За рубежом
журнал распространяется издательством 'Springer'. Англоязычная
версия выходит 6 раз в год (в одном англоязычном номере - два русскоязычных).
Импакт-фактор журнала РИНЦ 0.307
The
Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques is abstracted and/or indexed in (0.359):
Academic OneFile, Chemical Abstracts Service (CAS),
EI-Compendex, Expanded Academic, Google Scholar,
INSPEC, OCLC, SCImago, SCOPUS, Summon by ProQuest.
Тематика
журнала
В
журнале публикуются оригинальные статьи по актуальным проблемам физики твердого
тела, материаловедения, технике эксперимента, конденсированных сред,
наноструктур, изучения поверхностей
тонких пленок и межфазных границ
раздела:
1.
Геометрическая и энергетическая структуры
поверхностей, методы компьютерного моделирования.
2.
Физические и химические свойства, а также их изменение
в зависимости от облучения и других воздействий.
3.
Методы исследования пленок и приповерхностных объемов
кристаллов:
Ø рентгеноструктурные и рентгеноспектроскопические;
Ø применение синхротронного излучения;
Ø нейтронографические;
Ø электронографические;
Ø электронно-микроскопические;
Ø сканирующая туннельная микроскопия,
Ø атомно-силовая микроскопия ;
Ø различные методы, дающие сведения о поверхностях и
тонких пленках.
Предпочтение
отдается статьям, посвященным развитию методик и аппаратуры структурных
исследований. Кроме статей, содержащих оригинальные результаты, возможно
опубликование обзоров по теории конденсированного состояния, моделированию
свойств материалов, теории переноса и рассеяния ядерно-физических излучений и
частиц в веществе по предварительному согласованию с редакцией.
Заведующая редакцией: Еременко Надежда Владимировна, г. Москва, ул. Бутлерова, филиал ИК РАН, комн.120.
Телефон: 8-499- 743-00-32, Тел.
моб.8(916)188-71-41.