Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.sao.ru/Doc-k8/Events/2010/VAK/Tezisi/296_Thesis.doc Дата изменения: Sun Sep 5 17:36:22 2010 Дата индексирования: Tue Oct 2 17:08:36 2012 Кодировка: koi8-r Поисковые слова: http www.astronomy.ru forum index.php topic 4644.0.html

Картирование поверхностей запятненных звезд.

Колбин А.И. (1), Шиманский В.В. (1), Галеев А.И. (1)

(1) Казанский (Приволжский) Государственный Университет

АБСТРАКТ

Работа посвящена освоению метода MLI (Matrix Light-curve Inversion),
предназначенного для картирования поверхностей запятненных звезд. Среди
существующих методов картирования MLI-метод обладает тем преимуществом, что
используя его, мы не вносим предположений о форме и количестве пятен
звездной поверхности и имеем возможность картирования слабых и
быстровращающихся объектов. Суть метода заключается в разбиении модели
звездной поверхности на площадки и поиске такого распределения удельных
интенсивностей по ним, которое одновременно хорошо согласуется с
наблюдаемой кривой блеска и обладает определенной степенью гладкости.
Необходимость введения последнего условия обусловлена тем, что данная
задача принадлежит классу некорректно поставленных.
Для реализации и тестирования метода MLI была написана компьютерная
программа, которая позволяет создавать запятненные модели звездных
поверхностей, строить на их основе зашумленные синтетические кривые блеска
в полосах систем Джонсона и Стремгрена, проводить MLI-восстановление
поверхностей на основе созданных или считанных кривых блеска. Метод был
протестирован на различных вариантах моделей звездной поверхности.
Далее мы приступили к исследованию затменно-переменной системы DE CVn,
вторичная компонента которой проявляет пятенную активность. Фотометрический
материал, представленный B-, V-, R-изображениями окрестностей DE CVn, был
получен на телескопе РТТ-150 15, 16, 17 и 19 марта 2009 г. при помощи ПЗС-
матрицы ANDOR ([pic] пикс.; размер пикселя [pic] мкм). Полученный материал
был обработан в среде MaximDL. На основе полученных кривых блеска были
построены карты распределения интенсивности и эффективной температуры на
поверхности запятненной компоненты. Было выявлено наличие двух крупных зон
запятненности на поверхности вторичной компоненты.