| Найдено документов: 1242 (1 сайтов) ---- Время поиска: 0.05сек. |
Показаны документы, содержащие фрагменты текста из документа
http://www.issp.ac.ru/lhpp/PapersMeletov/paper53.pdf.
http://www.issp.ac.ru/lhpp/PapersMeletov/paper53.pdf.
1. Laboratory of spectroscopy of defect structures ISSP RAS
... DLTS . ... Deep Level Transient Spectroscopy ( DLTS ) is a unique and powerful tool for the study of electrically active defects (known as traps) in semiconductors. DLTS can be used in one of two modes of operation; with Schottky diodes or with p-n junctions. ... The capacitance transient is measured as a function of temperature (usually in the range from liquid nitrogen temperature to room temperature 300K or above). ...
[
Сохраненная копия
]
Ссылки http://www.issp.ac.ru/lsds/en/methods/dlts.html -- 5.4 Кб -- 10.04.2016
Похожие документы
Похожие документы
Еще в разделе:
(Показать все результаты (>1242) - www.issp.ac.ru/ )