Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес
оригинального документа
: http://lib.mexmat.ru/books/83080
Дата изменения: Unknown
Дата индексирования: Tue Apr 12 00:11:39 2016
Кодировка: Windows-1251
Электронная библиотека Попечительского совета механико-математического факультета Московского государственного университета
Нашли опечатку? Выделите ее мышкой и нажмите Ctrl+Enter
Название: Electronics reliability and measurement technology: nondestructive evaluation
Автор: Heyman J.S.
Аннотация:
This book examines electronics reliability and measurement technology. It identifies advances in measurement science and technology for nondestructive evaluation, and it details common measurement trouble spots.
|
|
О проекте