01.11.2005
2. Advanced Scanning Electron Microscope for Nano Tech Research. Г-н Акира Кабая (фирма JEOL).
3.Introduction on New Electron Probe Micro Analyzer and its Advansed Application. Г-н Йошиаки Оно (фирма JEOL).
4. Nikon Optical Microscope: Introduction of the latest models. Г-н Тфкахару Сасаока (фирма Nikon).
Приглашаются все заинтересованные лица.
Новейшее оборудование JEOL и NIKON: растровые и просвечивающие электронные микроскопы и др.
1.Latest Technology on Transmission Electron Microscope and its Applications to Nano-Materials. Г-н Тецуо Оикава (фирма JEOL).2. Advanced Scanning Electron Microscope for Nano Tech Research. Г-н Акира Кабая (фирма JEOL).
3.Introduction on New Electron Probe Micro Analyzer and its Advansed Application. Г-н Йошиаки Оно (фирма JEOL).
4. Nikon Optical Microscope: Introduction of the latest models. Г-н Тфкахару Сасаока (фирма Nikon).
Приглашаются все заинтересованные лица.
Источник:
Иностранный отдел
