Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://www.test.physchem.msu.ru/doc/control_q_suv.doc Дата изменения: Fri Dec 3 00:13:06 2010 Дата индексирования: Sun Apr 10 22:54:38 2016 Кодировка: koi8-r

контрольные Вопросы

1. Основные положения кинематического приближения теории рассеяния.
Интерференционная функция Лауэ и ее физический смысл.

2. Обратная решетка. Основные свойства обратной решетки. Связь прямой и
обратной решеток.

3. Геометрическая интерпретация условий дифракции. Сфера Эвальда. Сфера
ограничения.

4. Сложная решетка с базисом. Структурная амплитуда и структурный фактор.

5. Рассеяние в неупорядоченных системах, какую информацию о системе можно
получить, анализируя такие спектры. Функция распределения межатомных
расстояний.

6. Рассеяние рентгеновских лучей на свободных электронах. Поляризационный
множитель. Доля рентгеновского излучения, рассеиваемая в пространство одним
электроном.

7 Атомный фактор рассеяния. Особенности рассеяния электронов и нейтронов.
Какую информацию можно получать используя различные типы излучений.

8. Влияние температуры на интенсивность рассеяния. Фактор Дебая-Валлера.

9. Основные положения динамического приближения теории рассеяния. Волновое
поле в идеальном кристалле. Дисперсионное соотношение.

10. Двухволновое приближение в совершенном кристалле. Дисперсионная
поверхность. Важнейшие следствия динамической теории рассеяния.

11. Волнового поля в кристалле с искажениями. Уравнение Такаги-Топена.
Моделирование на ЭВМ дифракционного изображения дефектов.

12. Основные понятия интегральных методов исследования реальной структуры
кристаллов. Исследования диффузного рассеяния. Информация, получаемая из
анализа диффузного рассеяния. Метод интегральных характеристик.

13. Двухкристальный спектрометр. Схемы спектрометров n-n и n+n. В чем
состоит их принципиальное различие.

14. Рентгеновская дифракционная микроскопия. Основные методы рентгеновской
топографии. Метод Ланга. Основные характеристики методов. Разрешение.

15. Классификация типов контраста. Примеры применения топографических
методов.

16. Рентгеновская дифракционная микроскопия. Чувствительность к искажениям,
разрешение. «Комбинированное искажение» и его физический смысл. Простейшие
методы анализа изображения (метод погасания контраста gb=0). Примеры
применения топографических методов.

17. Основные характеристики оптических систем (разрешение, увеличение,
глубина резкости, аберрации). Типы контраста (амплитудный и фазовый
контраст).

18. Формирование изображения в оптической системе- подход Аббе. Микроскоп
как дифракционный прибор. Передаточная функция. Учет искажений при передаче
изображения.

19. Физические основы метода фазового микроскопа. Что такое
четвертьволновая пластинка и для чего она используется. Фазовотемнопольный
микроскоп.

20. "Тонкий" фазовый объект в электронной микроскопии. Анализ аберраций в
электронном микроскопе. Анализ передаточной функции электронного
микроскопа.

21. Оптимизация передаточной функции электронного микроскопа для получения
наилучшего разрешения. Дефокусировка. Метод Шерцера.

22. Основные закономерности взаимодействия электронов зонда с веществом.
Упругие и неупругие взаимодействия. Потери энергии электронов. Область
взаимодействия электронов зонда с веществом мишени.

23. Устройство и принцип работы РЭМ. Формирование электронного зонда,
кроссовер, конденсор. Детекторы сигналов в РЭМ. Детектор Эверхарта-Торнли.

24. Рентгеновский спектр, непрерывная и характеристическая компоненты
спектра. Физический смысл коротковолновой границы спектра (Граница Дуана-
Ханта). Закон Мозли.

25. Рентгеновский спектр. Методы регистрации рентгеновского спектра.
Рентгеновские кристалл-дифракционные спектрометры для микроанализа. Методы
фокусировки рентгеновского пучка.

26. Рентгеновский микроанализ. Методы регистрации рентгеновского спектра.
Основные поправки, вводимые в количественном анализе.

27. Формирование контраста в РЭМ. Основные механизмы образования
изображения в РЭМ. Методы обработки видеосигнала в РЭМ.

28. Принципы электронно-зондового микроанализа. Закон Мозли. Методы анализа
рентгеновского спектра (спектрометры). Два типа рентгеновских
микроанализаторов.

29. Факторы влияющие на точность рентгеновского микроанализа атомного
состава материалов. Поправки вводимые при анализе. Метод эталонов.

30. Метод оптического дифрактометра для экспериментального исследования
передаточной функции. Примеры использования методов электронной микроскопии
высокого разрешения.