PhD Vadim F. Kozlovski

phone: +7(495)939-45-82

Research activities:
X-ray analysis of semiconductor and sensor materials.

Recent publications:

• Масс-спектрометрическоe изучение испарения сульфида кадмия. Термохимические свойства молекулы CdS. А.В.Макаров, С.Г.Збежнева, И.Н.Один, В.Ф.Козловский, А.В.Гусаров. Масс-спектрометрия. 2006. Т. 3. Вып. 3. С. 205-209.
• Взаимная система Zn₃Te₃+Ga₂S₃=Zn₃S₃+Ga₂Te₃. И.Н. Один, М.Э. Рубина, А.В. Григорьева, В.Ф. Козловский. Журнал неорганической химии. 2005. Т.50. ?5. С.848-850.
• Новые четверные соединения в системах Сu₇РS₆ - Сd₇Р₂S₁₂. И.Н. Один, В.Ф.Козловский, В.В.Гринько. Журнал неорганической химии. 2005. Т.50. ?6. С.1024-1026.