Публикации сотрудников лаборатор

Äîêóìåíò âçÿò èç êýøà ïîèñêîâîé ìàøèíû. Àäðåñ îðèãèíàëüíîãî äîêóìåíòà : http://danp.sinp.msu.ru/LINT/publications_LINT.htm
Äàòà èçìåíåíèÿ: Mon Jan 18 00:08:38 2016
Äàòà èíäåêñèðîâàíèÿ: Sat Apr 9 23:31:24 2016
Êîäèðîâêà: Windows-1251

Публикации сотрудников лаборатор

Публикации сотрудников лаборатории:

2016

Статьи в журналах

1. Иешкин А.Е., Шемухин А.А., Ермаков Ю.А., Черныш В.С. (2016) Влияние состава пучка кластерных ионов на дефектообразование в мишени // Вестник Московского университета. Серия 3. Физика, астрономия, том 1.

2. Королев Д.С., Михайлов А.Н., Белов А.И., Васильев В.К., Гусейнов Д.В., Окулич Е.В., Шемухин А.А., Пирогов А.В., Павлов Д.А., Тетельбаум Д.И., Суродин С.И., Николичев Д.Е., Нежданов А.В. (2016) Послойный состав и структура кремния, подвергнутого совместной ионной имплантации галлия и азота для ионного синтеза GaN // Физика и техника полупроводников, том 50, № 2, с. 274-278.

2015

Статьи в журналах

1. A.E.Ieshkin, Yu.A. Ermakov, Chernysh V.S. Angular distributions of particles sputtered from multicomponent targets with gas cluster ions // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2015. V. 354, P. 226-229.

2. A.A. Shemukhin, A.V. Nazarov, Yu. V. Balakshin, V.S. Chernysh. Defect formation and recrystallization in the silicon on sapphire films under Si⁺ irradiation // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2015. V. 354, P. 274-276.

3. V.S. Chernysh, A.E. Ieshkin, Yu.A. Ermakov. The new mechanism of sputtering with cluster ion beams // Applied Surface Science, V. 326 (2015) P. 285-288.

4. Ieshkin A., Ermakov Y., Chernysh V., Ivanov I.E., Kryukov I.A., Alekseev K., Kargin N., Insepov Z. Computer simulation and visualization of supersonic jet for Gas cluster equipment //

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, 2015, изд-во Elsevier BV (Netherlands), V.795, P. 395-398.

5. Ieshkin A.E., Ermakov Yu A., Chernysh V.S. Gas Cluster Ion Formation Under Pulsed Supply of Various Working Gases. // Technical Physics Letters, V. 41, № 11, P. 1072-1074.

6. Иешкин А.Е., Ермаков Ю.А., Черныш В.С. Формирование кластерных ионов различных газов в режиме импульсной подачи газа. // Письма в "Журнал технической физики", изд-во Наука. С.-Петерб. отд-ние (СПб.), том 41, № 22, с. 8-14.

7. Andrianova N.N., Borisov A.M., Mashkova E.S., Shemukhin A.A., Shulga V.I., Virgiliev Yu S. Relief evolution of HOPG under high-fluence 30 keV argon ion irradiation. // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, изд-во Elsevier BV (Netherlands), V. 354, P. 146-150.

8. Привезенцев В.В., Куликаускас В.С., Шемухин А.А., Трифонов А.Ю., Кириленко Е.П., Батраков А.А. Визуализация и идентификация наночастиц в Si, последовательно имплантированном ионами 64Zn+ И 16O+ // Известия РАН. Серия физическая, 2015, том 79, № 11, с. 1506-1513.

9. Ломов А.А., Мяконьких А.В., Орешко А.П., Шемухин А.А., Назаров А.В. Исследование Si (001) подложек, подвергнутых плазменно-иммерсионно ионной имплантации He+ методом рентгеновской рефлектометрии. // Современные методы анализа дифракционных данных и актуальные проблемы рентгеновской оптики, место издания Великий Новгород, 2015, с. 135-138.

2014

Статьи в журналах

1. А. А. Шемухин, А. В. Назаров, Ю. В. Балакшин, В. С. Черныш. Влияние параметров ионного облучения на образование дефектов в пленках кремния // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2014, № 3, с. 56-58.

2. Petukhov V.P., Kulikauskas V.S., Novikov L.S., Petrov D.V., Smirnova T.N., Chernik V.N., Shemukhin A.A., Shumov A.E. Nuclear-physical analysis of the contamination on the surface of a COMPLAST panel after 12-year exposure at the ISS // Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques, издательство Gordon and Breach Science Publishers (Switzerland), 2014, том 8, № 3, с. 440-443.

3. Петухов В.П., Куликаускас В.С., Новиков Л.С., Петров Д.В., Смирнова Т.Н., Черник В.Н., Шемухин А.А., Шумов А.Е. ИССЛЕДОВАНИЕ ЯДЕРНО-ФИЗИЧЕСКИМИ МЕТОДАМИ ЗАГРЯЗНЕНИЙ ПОВЕРХНОСТИ ПАНЕЛИ 'КОМПЛАСТ' ПОСЛЕ 12 ЛЕТНЕЙ ЭКПОЗИЦИИ НА МКС // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2014, № 5, с. 35-38.

4. Privezentsev V.V., Kulikauskas V.S., Zatekin V.V., Petrov D.V., Makunin A.V., Shemukhin A.A., Lutzau A.V., Putrik A.V. Study of silicon implanted with zinc and oxygen ions via Rutherford backscattering spectroscopy // Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques, издательство Gordon and Breach Science Publishers (Switzerland), 2014, том 8, № 4, с. 794-800.

5. Привезенцев В.В., Куликаускас В.С., Затекин В.В., Петров Д.В., Макунин А.В., Шемухин А.А., Лютцау А.В., Путрик А.В. ИССЛЕДОВАНИЕ КРЕМНИЯ ИМПЛАНТИРОВАННОГО ИОНАМИ ЦИНКА И КИСЛОРОДА, МЕТОДОМ СПЕКТРОСКОПИИ РЕЗЕРФОРДОВСКОГО ОБРАТНОГО РАССЕЯНИЯ // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2014, № 8, с. 65.

6. Shemukhin A.A., Balakshin Y.V., Chernysh V.S., Golubkov S.A., Egorov N.N., Sidorov A.I. Defect formation and recrystallization mechanisms in silicon-on-sapphire films under ion irradiation // Semiconductors, издательство Izdatel'stva Nauka (Russian Federation), том 48, № 4, с. 517-520 (2014).

7. Shemukhin A.A., Nazarov A.V., Balakshin Y.V., Chernysh V.S. Influence of ion-irradiation parameters on defect formation in silicon films // Surface Investigation X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques, издательство Gordon and Breach Science Publishers (Switzerland), том 8, № 2, с. 251-253 (2014).

8. Shemukhin A.A., Muratova E.N. Investigation of transmission of 1.7-MeV He+ beams through porous alumina membranes // Technical Physics Letters, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 40, № 3, с. 219-221 (2014).

9. Privezentsev V.V., Shemukhin A.A., Petrov D.V., Trifonov A.Y., Saraykin V.V., Lutzau A.V. ZnO nanoparticle formation in Si by Co-implantation of Zn and O+ lons // Diffusion and Defect Data Pt.B: Solid State Phenomena, том 205, с. 502-508 (2014).

10. Медведева С.С., Коива Д.А., Шемухин А.А., Черных П.Н. Исследование изменения параметров тонкопленочных структур в процессе ионной имплантации // Вестник Балтийского федерального университета им. И. Канта, № 4, с. 7-13 (2014).

11. Шемухин А.А., Муратова Е.Н., Мошников В.А., Лучинин В.В., Черныш В.С. Исследование мембран пористого оксида алюминия с помошью методики резерфордовского обратного рассеивания // Вакуумная техника и технология, том 24, № 1, с. 43-47 (2014).

12. Шемухин А.А., Муратова Е.Н. Исследование прохождения пучков 1,7 МэВ He+ через мембраны пористого оксида алюминия // Письма в "Журнал экспериментальной и теоретической физики", том 40, № 5, с. 67-74 (2014).

13. Шемухин А.А., Балакшин Ю.В., Черныш В.С., Голубков С.А., Егоров Н.Н., Сидоров А.И. Механизмы дефектообразования и рекристаллизации в пленках кремния на сапфире при ионном облучении // Физика и техника полупроводников, том 48, № 4, с. 535-538 (2014).

2013

Статьи в журналах

1. Andreev A.A., Chernysh V.S., Ermakov Yu A., Ieshkin A.E. Design and investigation of gas cluster ion accelerator // Vacuum, 2013, V. 91, P. 47-53 (2013).

2. Muratova E.N., Spivak Yu M., Moshnikov V.A., Petrov D.V., Shemukhin A.A., Shimanova V.V. Influence of technological parameters of nanoporous Al2O3 Layers' preparation on their structural characteristics // Glass Physics and Chemistry, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 39, № 3, с. 320-328 (2013).

3. Shemukhin A.A., Chernykh P.N., Chernysh V.S., Balakshin Y.V., Nazarov A.V. Ion-beam methods of the accelerator complex HVEE-500 SINP MSU // Applied Physics, № 5, с. 59-62 (2013).

4. Shemukhin A.A., Balakshin Yu V., Chernykh P.N., Chernysh V.S. Medium energy ion scattering spectroscopy: Study of germanium amorphization under ion irradiation // Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques, том 7, с. 318-321 (2013).

5. Соколова Е.Н., Спивак Ю.М., Мошников В.А., Петров Д.В., Шемухин А.А., Шиманова В.В. 2013 Влияние технологических параметров получения слоев нанопористого Al2O3 на их структурные характеристики // Физика и химия стекла, том 39 (2013), c.

6. Шемухин А.А., Черных П.Н., Черныш В.С., Балакшин Ю.В., Назаров А.В. Ионно-пучковые методики ускорительного комплекса HVEE-500 НИИЯФ МГУ // Прикладная физика, № 5, с. 59-62 (2013).

7. Лучинин В.В., Муратова Е.Н., Шемухин А.А. Матрицы из пористого оксида алюминия как капиллярные матрицы-шаблоны для локализации воздействия ионов высоких энергий // Нано и микросистемная техника, № 12, с. 39-41 (2013).

8. Шемухин А.А., Балакшин Ю.В., Черных П.Н., Черныш В.С. Спектроскопия рассеяния ионов средних энергий: изучение аморфизации германия под действием ионного облучения // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 4, с. 25-28 (2013).

2012

Статьи в журналах

1. Ieshkin A.E., Ermakov Yu.A.,, Andreev A.A., Chernysh V.S. Gas Cluster Ion Beam Accelerator: First Results // Book of Abstracts of 25th International Conference on Atomic Collisions in Solids (ICACS 25), 2012, Kyoto, Japan, P. 145.

2. Shemukhin A.A., Balakshin Yu V., Chernysh V.S., Patrakeev A.S., Golubkov S.A., Egorov N.N., Sidorov A.I., Malyukov B.A., Statsenko V.N., Chumak V.D. Fabrication of ultrafine silicon layers on sapphire // Technical Physics Letters, издательство Maik Nauka/Interperiodica Publishing (Russian Federation), том 38, № 10, с. 907-909 (2012).

3. Шемухин А.А., Балакшин Ю.В., Черныш В.С., Патракеев А.С., Голубков С.А., Егоров Н.Н., Сидоров А.И., Малюков Б.А., Стаценко В.Н., Чумак В.Д. Формирование ультратонких слоев кремния на сапфире // Письма в журнал технической физики, том 38, № 19, с. 83-89 (2012).

2011

Статьи в журналах

Chernysh V.S., Patrakeev A.S. Angular distribution of atoms sputtered from alloys. // Nuclear Instruments and Methods in Physics ResearchB270, 2012, p.p. 50-54. см.
Андреев А.А., Ермаков Ю.А., Иешкин А.Е., Патракеев А.С., Черныш В.С. Ускоритель газовых кластерных ионов // Нанотехнологии. Разработка, применение. 2011, т.3, №2, c. 3-11.
Novikov N.V., Teplova Ya A., Chernysh V.S. Cross serction for the single-electron capture by fats He+ ions in inert gases // Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2011. V. 269, P. 834-836.

2010

Статьи в журналах

1. Черник В. Н., Акишин А. И., Пасхалов А. А., Патракеев А. С., Бондаренко Г. Г., Гайдар А. И.. Рентгеновский микроанализ поверхности поливинилтриметилсилана после воздействия ускоренного потока кислородной плазмы // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2010, № 4, с. 59-63.

1a. Chernik V. N., Akishin A. I., Paskhalov A. A., Patrakeev A. S., Bondarenko G. G. , Gaidar A. I. X_Ray Microanalysis of Polyvinyltrimethylsilane Surface after Impact of Accelerated Oxygen Plasma Flow // Journal of Surface Investigation. X_ray, Synchrotron and Neutron Techniques, 2010, No. 4, pp. 322-326. pdf

2. Александров В. А., Диденко П.И., Куликаускас В. С., Сабиров А. С., Филиппов Г.М., Черныш В. С.. Движение ионов в системе частично упорядоченных нанотрубок // Известия РАН, серия физическая, 2010, т.74, с. 1697-1700.