Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://danp.sinp.msu.ru/pci2014/vecher_stend_28.pdf Дата изменения: Sat Apr 26 02:22:42 2014 Дата индексирования: Sat Apr 9 23:36:10 2016 Кодировка:

- TiZrSiN, .. 1), . 2), .. 1), .. 1), .. 1) , , 2) ', , ,
1)

- TiZrSiN Xe2+. 300 Si (001). Si 6.5 21.8 .% Ti:Zr, ~ 1. Xe2+ 180 11016 51016 -2. , Si (x 6.5 .%) (9.3x13.5 .%), (x 21.6 .%) . (c -(Ti,Zr)N + a-SiNx) a-TiZrSiN. (Ti,Zr)100-xSi xN c-(Ti,Zr)N 4-8 a-SiN. Xe. Xe. , . (Ti,Zr)100-xSixN Xe. .. 1), .. 1), .. 2), .. 2) 1) , . , , . ,

2)

(), , , , ( 100 ), ( > 107 /2) . , , . - (Ti, W, Cu), ( Ei 200 ). ( 500) ( 0,2 2,5 / 2). , (, ). , .


, .. , .. , ,
, Fiber Paper . .
Ir
3000

( Ir, Pt, Sn) AVCarb® Carbon IB AD, (U = 10 )

2500

Ir/CFP Pt/CFP Ir, Pt/CFP

Pt

C o u n t s p er c h a n n el

2000

1500

1000

C O

500

0 50 100 150 200 250 300

Channel

. 1. RBS 4 (0 = 1,0 ) , AVCarb® Carbon Fiber Paper (Ba lla rd Materia l Products Inc.) - Ir, Pt Ir+Pt

SEM EPMA ( JEOL JSM-5610LV), XRF ( PANalytical Axios) RBS ( AN-2500, Hi gh Voltage) (. 1). . . , .. , .. , .. , , , , . , () , , . - - (www.ionlab.ru) HVEE-5 00. Si+ 120 230 , , 5в1014 /2, (10 15 /2). , , . , . , , , . 30 .


Cu InSe 2 Cu (In, Ga)S e2, . . 1, .. 2, 1 . . 2 , 3 .. 3 , .. 1 , , , , ,

Cu InSe2 (C IS ) Cu (In, Ga)Se2 (C IGS ), . ( ) = 2,5 = 16 5є = 1 40є. ( = 1 65є ), , , ( C IGS ), . ­

CIS CIGS

Cu 2 3 ,2 2 3 ,1 4 3 ,8

In 2 7 ,7 8 ,4 1 ,5

Ga -- 2 0 ,4 6 ,9

Se 4 9 ,1 4 8 ,1 4 7 ,8

, C IS , , , C IGS , .

- .., .. ( ), ., 110 9,15 400 . -03, Ar+ . ( ), ( <150 0) . = 350 0 P = 17 . , , . , , 30 -40 % (. 1) - .





.1. ­ ( 2,4 ); ­ ( 3,5 )


.. 1), .. 1), .. 1), .. 2), .. 1), .. 1), .. 2), .. 1), .. 1), .. 1), . . 1), .. 1) 1) « », , 2) , , ( ) (W 99.95 wt%) , , . W He2+ 3.5-4 C3+ 10 ( 21 ~10 -1023 /2). - 0.1-600 ( ), .. . . W /1, 2/. (0.5-0.8 % C3+). . . , 11-08-01093-, 13-08-00692-. 1. 2. B.I. Khripuno v et al. // JNM, 2009, V. 390-391, p. 921-924. A. I.R yazano v et al. // Fus. Sci.& Technol., 2012, V. 61, Nr. 2, FUSTE8 (2) 107-117. .. , .. , .. . .. , . , ( ) (, ), , (Zn, Pb) /1/. , . ( ) . : 23 ( Pb 18 - 22%), 63 ( Zn 34-37%), Al-Si ( Si 22 %), Al-Cu ( Cu 50%). «» - E= 300 , = 60 , j =30 - 150 / 2. , Al-Si Al-Cu , Si, Cu . Al-Cu . . 1. .., .., .. , 2013, 4, . 23.


.., .. , .. , .. (.), .. " . .. " , , , . AN-2500, , , 500 2500 . 55 Fe -3 9 , 5,9 6,49 24,9% 3,4% . , , 5,9 , 151 ( ­ 150 ). , 1 , . , . , , . , . .. 1), . . 2), . . 3), .. 3), ..3) - .., , 2) , , 3) , ,

1)

, . WC: /1/. WC , /2/. WC, , . ­ () WC. , WC ~5 .% WC 100 . 1. 2. .. . ­ .: , 1976. ­ 528 . . 201150849./ ­ . : .., .., .., .. // , 2013, 17 20 2013 .


.., .., .., .. , - , , () . , , 1084 3 21015 -2 8,34,160,44. .1 3 , . . . , (PET) , .. . 1 21013 -2, 10000 C 1O . 2 ­ 21015 -2. , 1000 , 2 . 2 . 100 Sb , . 0,5910-4 .%. 10

, .

0

.1

100 200 300

EE LFS u-Ni, Cu-Mn
1)

..1), ..2), ..1), ..1) - , . , , 2) , . ,

(E ELFS ­ Extended Energy Loss Fine Structure) XAFS (X-ray Absorption Fine Structure) ­ . , , . , ( XAFS), . ­ , EELFS . u-Ni, Cu-Mn . 14-02-31488 . 12-2-1013. LIF, .. , .. , .. , . , F2- F3+- LiF, Ar, Kr, Xe Bi c 1,2 ­ 3,5 /. .


/ Ni .. 1), .. 1), .. 1), .C. 2), . . 2) 1) , , 2) .., .., , , Si(-4.5)/SiO2(0.6)/Si3N4 (0.12), 1100 0, () (). 10-20, 150-500. (.1) , «» (3-4 ) .

)

)
.1. C He Si/SiO2/Si3N4/C/Ni () ()