Программа курса "Современные методы сканирующей зондовой микроскопии"

Техника сканирующей зондовой микроскопии

• Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов.
• Сканирующие элементы (сканеры) зондовых микроскопов.
• Устройства для прецизионных перемещений зонда и образца.
• Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий.
• Формирование и обработка СЗМ изображений.
• Типы зондов СЗМ, типы датчиков СЗМ, типы систем позиционирования.

Методы СЗМ

• сканирующая туннельная микроскопия
• атомно-силовая микроскопия
• метод камертона
• магнитная/емкостная/токовая микроскопия
• метод Кельвина и электросиловой методы
• оптические методики: ближнепольные и дальнопольные
• многопроходные методики
• методы литографии и манипулирования в СЗМ
• o измерения в специальных средах

Точность измерения физических величин, достоверность полученных данных, артефакты измерений.

Конкретные реализации СЗМ.

Обзор научных результатов, полученных при помощи СЗМ.

Список литературы

1. В.Л. Миронов. Основы сканирующей зондовой микроскопии. Учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. РАН, Институт физики Микроструктур, Нижний Новгород, 2004.
2. М. Миллер, Дж. Смит. Зондовый анализ в автоионной микроскопии. Изд. Мир, 2013.
3. Е.В. Дубровин, Г.Б. Мешков, И.В. Яминский. Сканирующая зондовая микроскопия: получение трехмерных изображений. Описание лабораторной работы. МГУ, 2009.
4. Интернет-сайт учебно-научного центра "Бионаноскопия": http://www.nanoscopy.org/
5. Интернет-сайт компании "НТ-МДТ": http://www.ntmdt.ru/
6. D. Sarid - "Exploring scanning probe microscopy with "Mathematica"", John Wiley& Sons, Inc., New York, 1997.