Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://semiconductors.phys.msu.ru/publ/rsne2003.html
Дата изменения: Sat Dec 23 14:33:08 2006
Дата индексирования: Mon Oct 1 20:50:25 2012
Кодировка: koi8-r
Новый метод определения параметров потенциальной ямы нецентральных атомов с помощью EXAFS-спектроскопии Работа опубликована в журнале Вестник Московского университета, сер. Физика, астрономия, в. 6, с. 46-50 (2005).

Новый метод определения параметров потенциальной ямы нецентральных атомов с помощью EXAFS-спектроскопии

А.И. Лебедев, И.А. Случинская

Московский государственный университет, физический факультет, Москва, Россия

Предложен новый метод, позволяющий из данных EXAFS определить параметры трехмерного многоямного потенциала нецентральных атомов. Основными особенностями подхода являются разложение трехмерного потенциала в кластере в ряд по степеням смещения с учетом ограничений, накладываемых симметрией узла решетки, и точное трехмерное интегрирование функции распределения при расчете спектров EXAFS. В рамках этого подхода в классическом приближении найдены зависимости параметров многоямного потенциала атома Ge от температуры и состава в ряде образцов твердого раствора Sn1-xGexTe (77<T<300 K, x>0.4). Показано, что ангармоническая часть потенциала сильно анизотропна, а по своему типу сегнетоэлектрический фазовый переход в Sn1-xGexTe оказывается промежуточным между переходами типа смещения и порядок- беспорядок.


Другие работы по исследованию с помощью XAFS