Документ взят из кэша поисковой машины. Адрес оригинального документа : http://semiconductors.phys.msu.ru/rus/scanning_microscopy.html
Дата изменения: Fri Mar 13 18:24:08 2015
Дата индексирования: Sat Apr 9 23:16:45 2016
Кодировка: koi8-r
Программа курса "Современные методы сканирующей зондовой микроскопии"

Программа курса "Современные методы сканирующей зондовой микроскопии"

(8 семестр, 16? часов, зачет)

Принцип работы сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ).
Типы зондов СЗМ, типы датчиков СЗМ, типы систем позиционирования.
Что измеряет СЗМ, микроскопия/спектроскопия?
Точность измерения физических величин, достоверность полученных данных, артефакты измерений.
Методы СЗМ:

Конкретные реализации СЗМ
Обзор научных результатов, полученных при помощи СЗМ

Другие курсы профиля