Далее | Оглавление

Введение

    Соотношения между параметрами элементарных ячеек и величинами межплоскостных расстояний имеют чисто геометрический характер. Поэтому, как отмечал Н.В.Белов, дифракционные катрины кристаллов с совершенно различным составом, но с одинаковыми параметрами ячеек будут содержать одинаково расположенные рефлексы. Так, три кубических кристалла - металлический a-Mn, силикат содалит Na4Al3Si3O12Cl и комплексная соль (NH4)3AlF6 имеют одинаковые кубические элементарные ячейки с ребром 8.90 А, а, следовательно, и наборы значений dhkl, и поэтому положение отражений на их рентгенограммах будет совершенно одинаковым. При этом, как уже отмечалось, содержимое ячеек абсолютно разное: в ячейке a-Mn присутствуют 58 атомов одного сорта, тогда как в ячейке содалита 46 атомов пяти различных сортов и, наконец, в ячейке комплексной соли 40 атомов трех сортов, не считая 48 атомов водорода.

    Аналогичный случай геометрического тождества рентгенограмм при совершенно различных интенсивностях рефлексов мы имеем в трех также кубических структурах: CuI, MnS2 и Ag3AsO4. При одинаковом ребре элементарного куба 6.1 А в нем размещается 8 атомов двух сортов первого соединения, 12 атомов двух сортов второго и 16 атомов трех сортов третьего. Материальному различию всех этих структур отвечает резкое различие интенсивностей геометрически тождественных рефлексов, которые на некоторых рентгенограммах могут оказаться равными 0, то есть практически отсутствовать. Как мы увидим далее, именно сорта атомов и их позиции внутри элементарных ячеек определяют интенсивность содержащихся на рентгенограммах рефлексов. Знание этих корреляций совершенно необходимо, так как именно оно открывает путь к структурным исследованиям на основе анализа дифракционных картин.

    Прежде чем перейти к непосредственному анализу методов структурной расшифровки, необходимо осмыслить явления, сопровождающие рассеяние рентгеновских лучей, проходящих сквозь кристалл, то есть в конечном счете дать ответ на вопрос, какие же факторы определяют интенсивность дифрагированных кристаллом лучей. Эти заключения составляют основное содержание электронной версии ранее изданного учебного пособия (Д.Ю.Пущаровский, Г.В.Фетисов "Построение дифрактограмм поликристаллов по структурным данным", М., МГУ, 1991г.).

Далее | Оглавление